Filtreler
Filtreler
Bulunan: 1 Adet 0.001 sn
Yayın Türü: Erratum ✕Dergi Adı: Journal of Electroni ... ✕
Koleksiyon [2]
Tam Metin [1]
Yazar [3]
Yayın Türü [1]
Yayın Tarihi [1]
Dergi Adı [1]
Yayıncı [1]
Dil [1]
Yazar Departmanı [1]
Erratum to: Speeding Up Logic Locking via Fault Emulation and Dynamic Multiple Fault Injection (Journal of Electronic Testing, 31(5–6), (2015), 525-536, DOI: 10.1007/s10836-015-5544-2)

Gören, S. | Gürsoy, C.C. | Yildiz, A.

Erratum | 2016 | Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)32 ( 1 ) , pp.105 - 106

[No abstract available]

6698 sayılı Kişisel Verilerin Korunması Kanunu kapsamında yükümlülüklerimiz ve çerez politikamız hakkında bilgi sahibi olmak için alttaki bağlantıyı kullanabilirsiniz.
Tamam Açık Erişim Politikası
creativecommons
Bu site altında yer alan tüm kaynaklar Creative Commons Alıntı-GayriTicari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile lisanslanmıştır.
Platforms