Speeding Up Logic Locking via Fault Emulation and Dynamic Multiple Fault Injection (vol 31, pg 525, 2015)



Yazar Goren, S
Gursoy, CC
Yildiz, A
Yayın Türü Correction
Tek Biçim Adres https://hdl.handle.net/20.500.11831/6264
Koleksiyonlar Araştırma Çıktıları | Ön Baskı | WoS | Scopus | TR-Dizin | PubMed
02- WoS İndeksli Yayınlar Koleksiyonu
Dergi Adı JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
Cild 32
Dergi Sayısı 1
Sayfalar 105 - 106
Yayın Tarihi 2016
Eser Adı
[dc.title]
Speeding Up Logic Locking via Fault Emulation and Dynamic Multiple Fault Injection (vol 31, pg 525, 2015)
Yazar
[dc.contributor.author]
Goren, S
Yazar
[dc.contributor.author]
Gursoy, CC
Yazar
[dc.contributor.author]
Yildiz, A
Yayıncı
[dc.publisher]
SPRINGER
Yayın Türü
[dc.type]
correction
Özet
[dc.description.abstract]
Kayıt Giriş Tarihi
[dc.date.accessioned]
2020-03-18
Yayın Tarihi
[dc.date.issued]
2016
Açık Erişim Tarihi
[dc.date.available]
2020-03-18
Dil
[dc.language.iso]
eng
Haklar
[dc.rights]
info:eu-repo/semantics/openAccess
ISSN
[dc.identifier.issn]
0923-8174
ISSN
[dc.identifier.issn]
1573-0727
Yayının ilk sayfa sayısı
[dc.identifier.startpage]
105
Yayının son sayfa sayısı
[dc.identifier.endpage]
106
Dergi Adı
[dc.relation.journal]
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
Dergi Sayısı
[dc.identifier.issue]
1
Cild
[dc.identifier.volume]
32
Tek Biçim Adres
[dc.identifier.uri]
https://hdl.handle.net/20.500.11831/6264
Görüntülenme Sayısı ( Şehir )
Görüntülenme Sayısı ( Ülke )
Görüntülenme Sayısı ( Zaman Dağılımı )
Görüntülenme
15
20.03.2023 tarihinden bu yana
İndirme
1
20.03.2023 tarihinden bu yana
Son Erişim Tarihi
29 Eylül 2023 03:16
Google Kontrol
Tıklayınız
6698 sayılı Kişisel Verilerin Korunması Kanunu kapsamında yükümlülüklerimiz ve çerez politikamız hakkında bilgi sahibi olmak için alttaki bağlantıyı kullanabilirsiniz.

creativecommons
Bu site altında yer alan tüm kaynaklar Creative Commons Alıntı-GayriTicari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile lisanslanmıştır.
Platforms