[No abstract available]
Yazar |
Gören, S. Gürsoy, C.C. Yildiz, A. |
Yayın Türü | Erratum |
Tek Biçim Adres | https://hdl.handle.net/20.500.11831/346 |
Koleksiyonlar |
Araştırma Çıktıları | Ön Baskı | WoS | Scopus | TR-Dizin | PubMed 03- Scopus İndeksli Yayınlar Koleksiyonu |
Dergi Adı | Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) |
Cild | 32 |
Dergi Sayısı | 1 |
Sayfalar | 105 - 106 |
Yayın Tarihi | 2016 |
Eser Adı [dc.title] | Erratum to: Speeding Up Logic Locking via Fault Emulation and Dynamic Multiple Fault Injection (Journal of Electronic Testing, 31(5–6), (2015), 525-536, DOI: 10.1007/s10836-015-5544-2) |
Yazar [dc.contributor.author] | Gören, S. |
Yazar [dc.contributor.author] | Gürsoy, C.C. |
Yazar [dc.contributor.author] | Yildiz, A. |
Yayıncı [dc.publisher] | Springer New York LLC |
Yayın Türü [dc.type] | erratum |
Özet [dc.description.abstract] | [No abstract available] |
Kayıt Giriş Tarihi [dc.date.accessioned] | 2020-03-17 |
Yayın Tarihi [dc.date.issued] | 2016 |
Açık Erişim Tarihi [dc.date.available] | 2020-03-17 |
Dil [dc.language.iso] | eng |
Haklar [dc.rights] | info:eu-repo/semantics/openAccess |
ISSN [dc.identifier.issn] | 09238174 |
Yayının ilk sayfa sayısı [dc.identifier.startpage] | 105 |
Yayının son sayfa sayısı [dc.identifier.endpage] | 106 |
Dergi Adı [dc.relation.journal] | Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) |
Dergi Sayısı [dc.identifier.issue] | 1 |
Cild [dc.identifier.volume] | 32 |
Tek Biçim Adres [dc.identifier.uri] | https://hdl.handle.net/20.500.11831/346 |